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耐压测试VS击穿测试特点详情分析
时间: 2020-12-18点击量:
    高压(High-Potential)测试是一种非常通用的测试手段,可以用于各种不同的应用场景。从研究、开发和型式试验,到下线安全结构测试,甚至包括维修后的检测。
    本文主要介绍两种最常见的Hipot测试类型的区别,分别是耐压测试和击穿测试。
    原理上,这两种测试施加于DUT(被测物)的作用几乎是一样的,然而测试的结果往往不同。
    Hipot测试通常包含2个测试端口,一个电压源输出端和一个回流端,测试回路中有泄露电流流过,被测试仪器测量出来。
    耐压测试
    耐压测试是最常见的hipot测试类型。它包括施加一个预设好的电压,通常是1000V或者更高。
    测试(输出)电压作用于被测物的时间称为持续时间(Holdtime),时间长短视具体应用而定,从型式试验的几分钟到产线(常规)测试的几秒钟。
    通常,测试结果是通过还是失败,取决于测量到的泄露电流的大小。如果泄露电流过大(超过设定好的触发电流),则测试失败并中止。
    泄露电流的幅值通常在mA量级,测试开始前一般会设定泄露电流的阈值,来判定测试通过与否。同样的,泄露电流的上限值设定为多少,取决于不同的应用。对型式试验而言,泄露电流上限值多在100mA以内,测试是在更可控的实验室环境进行的。当在产线进行测试时,限值通常低得多以确保测试人员的安全,对于某些被测物,5mA以内是可以接受的。
    这类测试通常不具有破坏性,除非被测物原本已经有绝缘不良处,所以它是生产环境中常用的测试类型。然而,作为型式试验的一部分,更长的测试时间可能弱化绝缘材料的完整性。因此,进行过型式试验的的产品通常被认为不适合出售。
    击穿测试
    击穿测试也是按上述的方法进行的,然而,在这种特定测试中,是不设定电压上限的,并且通常没有持续时间。
    击穿测试中,电压逐渐升高,直到被测物的绝缘性不再能承受这么高的电压并被击穿。这个电压值就是绝缘体变成导电体的一个临界电压。
    这个实例中的核心参数是击穿出现时被记录下来的电压值。
    如上所述,这类测试是属于破坏性试验,目的是迫使DUT达到击穿点。因此,此类测试只在研发环境中进行,不适用于常规测试,它会使被测物出于不安全状态。
    结论
    可以看出,这两种测试方法在确定产品整体安全性方面都占有一席之地,然而需要有正确的时间和地点来进行这些测试。考虑到这一点,很容易就明白为什么击穿测试只适用于研发场景,而对于被测物在测试完依然按预期使用的情况,耐压测试用于证明产品的安全性更为合适。
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