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耐压测试VS击穿测试特点详情分析

时间: 2020-12-18点击量：

高压(High-Potential)测试是一种非常通用的测试手段，可以用于各种不同的应用场景。从研究、开发和型式试验，到下线安全结构测试，甚至包括维修后的检测。

本文主要介绍两种常见的Hipot测试类型的区别，分别是耐压测试和击穿测试。

原理上，这两种测试施加于DUT(被测物)的作用几乎是一样的，然而测试的结果往往不同。

Hipot测试通常包含2个测试端口，一个电压源输出端和一个回流端，测试回路中有泄露电流流过，被测试仪器测量出来。

耐压测试

耐压测试是常见的hipot测试类型。它包括施加一个预设好的电压，通常是1000V或者更高。

测试(输出)电压作用于被测物的时间称为持续时间(Holdtime)，时间长短视具体应用而定，从型式试验的几分钟到产线(常规)测试的几秒钟。

通常，测试结果是通过还是失败，取决于测量到的泄露电流的大小。如果泄露电流过大(超过设定好的触发电流)，则测试失败并中止。

泄露电流的幅值通常在mA量级，测试开始前一般会设定泄露电流的阈值，来判定测试通过与否。同样的，泄露电流的上限值设定为多少，取决于不同的应用。对型式试验而言，泄露电流上限值多在100mA以内，测试是在更可控的实验室环境进行的。当在产线进行测试时，限值通常低得多以确保测试人员的安全，对于某些被测物，5mA以内是可以接受的。

这类测试通常不具有破坏性，除非被测物原本已经有绝缘不良处，所以它是生产环境中常用的测试类型。然而，作为型式试验的一部分，更长的测试时间可能弱化绝缘材料的完整性。因此，进行过型式试验的的产品通常被认为不适合出售。

击穿测试

击穿测试也是按上述的方法进行的，然而，在这种特定测试中，是不设定电压上限的，并且通常没有持续时间。

击穿测试中，电压逐渐升高，直到被测物的绝缘性不再能承受这么高的电压并被击穿。这个电压值就是绝缘体变成导电体的一个临界电压。

这个实例中的核心参数是击穿出现时被记录下来的电压值。

如上所述，这类测试是属于破坏性试验，目的是迫使DUT达到击穿点。因此，此类测试只在研发环境中进行，不适用于常规测试，它会使被测物出于不安全状态。

结论

可以看出，这两种测试方法在确定产品整体安全性方面都占有一席之地，然而需要有正确的时间和地点来进行这些测试。考虑到这一点，很容易就明白为什么击穿测试只适用于研发场景，而对于被测物在测试完依然按预期使用的情况，耐压测试用于证明产品的安全性更为合适。

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